4000-080-502
通過實驗表明,這種傳感器的測量結果與傳統磁阻掃描傳感器、離線實驗剖面測量和標準工業實驗室測量設備結構相符。采用這種傳感器所提供的精確可靠的剖面測量,可用于控制紙張厚度的均勻性并確保大紙卷和復卷紙卷結構的合理性。
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